精密lcr測試儀?高速測量2ms?能根據C 和D (損耗係數*2)的測量值╃₪✘│₪,進行被測物合格與否的判斷?對應測試線╃₪✘│₪,比較器功能/觸發輸出功能?3504-60/-50用BIN的分選介面進行被測物體的測試?3504-40記錄工具╃₪✘│₪,實現高速/低成本的測試查出全機測量中的接觸錯誤╃₪✘│₪,提高成品率
LCR測試儀 高速測量2ms 能根據C 和D (損耗係數*2)的測量值╃₪✘│₪,進行被測物合格與否的判斷 對應測試線╃₪✘│₪,比較器功能/觸發輸出功能 3504-60/-50用BIN的分選介面進行被測物體的測試 3504-40記錄工具╃₪✘│₪,實現高速/低成本的測試 查出全機測量中的接觸錯誤╃₪✘│₪,提高成品率
LCR測試儀 高速測量2ms 能根據C 和D (損耗係數*2)的測量值╃₪✘│₪,進行被測物合格與否的判斷 對應測試線╃₪✘│₪,比較器功能/觸發輸出功能 3504-60/-50用BIN的分選介面進行被測物體的測試 3504-40記錄工具╃₪✘│₪,實現高速/低成本的測試 查出全機測量中的接觸錯誤╃₪✘│₪,提高成品率
阻抗分析儀 測量頻率·✘•◕✘:1MHz~1.3GHz 測量時間·✘•◕✘:Z快0.5ms(模擬測量時間) 測量值偏差·✘•◕✘:0.07%(測量頻率1GHz時的代表值) 基本精度·✘•◕✘:±0.65% rdg. 緊湊主機僅機架一半大小╃₪✘│₪,測試頭僅手掌大小 豐富的接觸檢查功能(DCR測量╃✘、Hi-Z篩選╃✘、波形判定) 使用分析功能在掃描測量頻率╃✘、測量訊號電平的同時進行測量
阻抗分析儀 測量頻率·✘•◕✘:1MHz~600MHz 測量時間·✘•◕✘:Z快0.5ms(模擬測量時間) 基本精度·✘•◕✘:±0.65% rdg. 緊湊主機僅機架一半大小╃₪✘│₪,測試頭僅手掌大小 豐富的接觸檢查功能(DCR測量╃✘、Hi-Z篩選╃✘、波形判定) 使用分析功能在掃描測量頻率╃✘、測量訊號電平的同時進行測量
阻抗分析儀 測量頻率1MHz~300MHz 測量時間·✘•◕✘:Z快0.5ms 基本精度±0.72%rdg. 緊湊主機僅機架一半大小╃✘、測試頭僅手掌大小 豐富的接觸檢查功能(DCR測量╃✘、Hi-Z篩選╃✘、波形判定) 使用分析功能在掃描測量頻率╃✘、測量訊號電平的同時進行測量
阻抗分析儀 測量頻率1MHz~300MHz 測量時間·✘•◕✘:Z快0.5ms 基本精度±0.72%rdg. 緊湊主機僅機架一半大小╃✘、測試頭僅手掌大小 豐富的接觸檢查功能(DCR測量╃✘、Hi-Z篩選╃✘、波形判定) 使用分析功能在掃描測量頻率╃✘、測量訊號電平的同時進行測量
阻抗分析儀 適用於離子運動和溶液電阻測量╃₪✘│₪,1mHz ~ 200kHz的寬範圍訊號源 1臺機器即可實現LCR測量╃✘、掃描測量的連續測量和高速檢查 可測量電池的無負載狀態產生的內部電阻 Z快2ms的高速測量╃₪✘│₪,實現掃描測量的高速化 基本精度±0.05%╃₪✘│₪,零件檢查到研究開發測量均可對應 適用於Cole-Cole圖╃✘、等效電路分析等電器化學零件和材料的電阻(LCR)測量