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  • 精密lcr測試儀3504-40

    精密lcr測試儀?高速測量2ms?能根據C 和D (損耗係數*2)的測量值☁│,進行被測物合格與否的判斷?對應測試線☁│,比較器功能/觸發輸出功能?3504-60/-50用BIN的分選介面進行被測物體的測試?3504-40記錄工具☁│,實現高速/低成本的測試查出全機測量中的接觸錯誤☁│,提高成品率

  • LCR測試儀3504-50

    LCR測試儀 高速測量2ms 能根據C 和D (損耗係數*2)的測量值☁│,進行被測物合格與否的判斷 對應測試線☁│,比較器功能/觸發輸出功能 3504-60/-50用BIN的分選介面進行被測物體的測試 3504-40記錄工具☁│,實現高速/低成本的測試 查出全機測量中的接觸錯誤☁│,提高成品率

  • LCR測試儀3504-60

    LCR測試儀 高速測量2ms 能根據C 和D (損耗係數*2)的測量值☁│,進行被測物合格與否的判斷 對應測試線☁│,比較器功能/觸發輸出功能 3504-60/-50用BIN的分選介面進行被測物體的測試 3504-40記錄工具☁│,實現高速/低成本的測試 查出全機測量中的接觸錯誤☁│,提高成品率

  • 阻抗分析儀IM7585

    阻抗分析儀 測量頻率✘✘☁•✘:1MHz~1.3GHz 測量時間✘✘☁•✘:Z快0.5ms(模擬測量時間) 測量值偏差✘✘☁•✘:0.07%(測量頻率1GHz時的代表值) 基本精度✘✘☁•✘:±0.65% rdg. 緊湊主機僅機架一半大小☁│,測試頭僅手掌大小 豐富的接觸檢查功能(DCR測量✘•、Hi-Z篩選✘•、波形判定) 使用分析功能在掃描測量頻率✘•、測量訊號電平的同時進行測量

  • 阻抗分析儀IM7583

    阻抗分析儀 測量頻率✘✘☁•✘:1MHz~600MHz 測量時間✘✘☁•✘:Z快0.5ms(模擬測量時間) 基本精度✘✘☁•✘:±0.65% rdg. 緊湊主機僅機架一半大小☁│,測試頭僅手掌大小 豐富的接觸檢查功能(DCR測量✘•、Hi-Z篩選✘•、波形判定) 使用分析功能在掃描測量頻率✘•、測量訊號電平的同時進行測量

  • 阻抗分析儀IM7581

    阻抗分析儀 測量頻率1MHz~300MHz 測量時間✘✘☁•✘:Z快0.5ms 基本精度±0.72%rdg. 緊湊主機僅機架一半大小✘•、測試頭僅手掌大小 豐富的接觸檢查功能(DCR測量✘•、Hi-Z篩選✘•、波形判定) 使用分析功能在掃描測量頻率✘•、測量訊號電平的同時進行測量

  • 阻抗分析儀IM7580A

    阻抗分析儀 測量頻率1MHz~300MHz 測量時間✘✘☁•✘:Z快0.5ms 基本精度±0.72%rdg. 緊湊主機僅機架一半大小✘•、測試頭僅手掌大小 豐富的接觸檢查功能(DCR測量✘•、Hi-Z篩選✘•、波形判定) 使用分析功能在掃描測量頻率✘•、測量訊號電平的同時進行測量

  • 阻抗分析儀IM3590

    阻抗分析儀 適用於離子運動和溶液電阻測量☁│,1mHz ~ 200kHz的寬範圍訊號源 1臺機器即可實現LCR測量✘•、掃描測量的連續測量和高速檢查 可測量電池的無負載狀態產生的內部電阻 Z快2ms的高速測量☁│,實現掃描測量的高速化 基本精度±0.05%☁│,零件檢查到研究開發測量均可對應 適用於Cole-Cole圖✘•、等效電路分析等電器化學零件和材料的電阻(LCR)測量

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