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  精密lcr測試儀3504-40

  精密lcr測試儀?高速測量2ms?能根據C 和D （損耗係數*2）的測量值☁│，進行被測物合格與否的判斷?對應測試線☁│，比較器功能/觸發輸出功能?3504-60/-50用BIN的分選介面進行被測物體的測試?3504-40記錄工具☁│，實現高速/低成本的測試查出全機測量中的接觸錯誤☁│，提高成品率

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  LCR測試儀3504-50

  LCR測試儀 高速測量2ms 能根據C 和D （損耗係數*2）的測量值☁│，進行被測物合格與否的判斷 對應測試線☁│，比較器功能/觸發輸出功能 3504-60/-50用BIN的分選介面進行被測物體的測試 3504-40記錄工具☁│，實現高速/低成本的測試 查出全機測量中的接觸錯誤☁│，提高成品率

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  LCR測試儀3504-60

  LCR測試儀 高速測量2ms 能根據C 和D （損耗係數*2）的測量值☁│，進行被測物合格與否的判斷 對應測試線☁│，比較器功能/觸發輸出功能 3504-60/-50用BIN的分選介面進行被測物體的測試 3504-40記錄工具☁│，實現高速/低成本的測試 查出全機測量中的接觸錯誤☁│，提高成品率

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  阻抗分析儀IM7585

  阻抗分析儀 測量頻率✘✘☁•✘：1MHz~1.3GHz 測量時間✘✘☁•✘：Z快0.5ms（模擬測量時間） 測量值偏差✘✘☁•✘：0.07%（測量頻率1GHz時的代表值） 基本精度✘✘☁•✘：±0.65% rdg. 緊湊主機僅機架一半大小☁│，測試頭僅手掌大小 豐富的接觸檢查功能（DCR測量✘•、Hi-Z篩選✘•、波形判定） 使用分析功能在掃描測量頻率✘•、測量訊號電平的同時進行測量

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  阻抗分析儀IM7583

  阻抗分析儀 測量頻率✘✘☁•✘：1MHz~600MHz 測量時間✘✘☁•✘：Z快0.5ms（模擬測量時間） 基本精度✘✘☁•✘：±0.65% rdg. 緊湊主機僅機架一半大小☁│，測試頭僅手掌大小 豐富的接觸檢查功能（DCR測量✘•、Hi-Z篩選✘•、波形判定） 使用分析功能在掃描測量頻率✘•、測量訊號電平的同時進行測量

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  阻抗分析儀IM7581

  阻抗分析儀 測量頻率1MHz~300MHz 測量時間✘✘☁•✘：Z快0.5ms 基本精度±0.72%rdg. 緊湊主機僅機架一半大小✘•、測試頭僅手掌大小 豐富的接觸檢查功能（DCR測量✘•、Hi-Z篩選✘•、波形判定） 使用分析功能在掃描測量頻率✘•、測量訊號電平的同時進行測量

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  阻抗分析儀IM7580A

  阻抗分析儀 測量頻率1MHz~300MHz 測量時間✘✘☁•✘：Z快0.5ms 基本精度±0.72%rdg. 緊湊主機僅機架一半大小✘•、測試頭僅手掌大小 豐富的接觸檢查功能（DCR測量✘•、Hi-Z篩選✘•、波形判定） 使用分析功能在掃描測量頻率✘•、測量訊號電平的同時進行測量

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  阻抗分析儀IM3590

  阻抗分析儀 適用於離子運動和溶液電阻測量☁│，1mHz ～ 200kHz的寬範圍訊號源 1臺機器即可實現LCR測量✘•、掃描測量的連續測量和高速檢查 可測量電池的無負載狀態產生的內部電阻 Z快2ms的高速測量☁│，實現掃描測量的高速化 基本精度±0.05%☁│，零件檢查到研究開發測量均可對應 適用於Cole-Cole圖✘•、等效電路分析等電器化學零件和材料的電阻（LCR）測量

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